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你知道紅外線氣體分析儀的分析依據(jù)是什么嗎?
  • 更新時(shí)間:2019-08-28     瀏覽次數(shù):901
    •      你知道紅外線氣體分析儀的分析依據(jù)是什么嗎?

          紅外線氣體分析儀是基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律,采用上的NDIR技術(shù), 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術(shù)等,實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體 (SO2、NOX、CO2、CO、CH4等)的高精度連續(xù)檢測(cè)。
          紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
          1.比爾定律
          紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:
          I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;
          I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;
          K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);
          C--待分析組分的氣體濃度;
          L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
          對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀,其測(cè)量組分已定,即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C了。
          適用于化工、水泥、冶金、電廠等不同領(lǐng)域的氣體分析;根據(jù)客戶不同應(yīng)用領(lǐng)域的要求,如測(cè)量范圍、響應(yīng)時(shí)間、供電特點(diǎn)等,實(shí)現(xiàn)對(duì)不同濃度、不同氣體(SO2、NOX、CO2、CO、CH4、N2O等)的高精度連續(xù)檢測(cè)和記錄;可為用戶集成系統(tǒng)應(yīng)用方案,如化工過(guò)程控制、連續(xù)污染物檢測(cè)系統(tǒng)(CEMS)等。